【成果推介】一种检测氡含量的装置及方法

【应用行业】环保

【技术领域】机械制造技术

【知识产权】发明专利

【成果完成单位】华中师范大学

【成果完成人姓名】刘倩、李金、郑阳恒、孙向明、邹曙光

【完成人团队简介】团队建设像素实验室PLAC（Pixel Laboratory At CCNU），专门研究像素探测器。设计了MIC1和MIC2， MIC3几款MAPS原型芯片以及应用于CEPC项目预研的MIC4芯片。

【成果完成时间】2020-09-28

【专利号】CN202011037210X

【授权日期】2024-05-31

【技术成熟度】研发阶段

【应用背景】氡是自然界中存在的一种放射性气体。在低本底暗物质实验和中微子实验中，氡是主要的本底之一。另外，氡的衰变子体是放射性气溶胶,吸入人体产生的内辐照可诱发肺癌。随着科学技术水平发展，新的测量氡浓度的方法和仪器有许多种，按采样时间可分为：瞬时快速测量，连续测量和长期累计测量三种。其中快速测量典型的方法有：双滤膜法、闪烁室法等。连续测量典型的方法有：闪烁室法、电离室静电计法、脉冲电离室法等。累计测量典型的方法有：活性炭法、驻极体法等。这些方法各有优缺点，但都不能实时对氡的衰变径迹进行测量，因此其测量下限往往受制与环境和材料的本底。

【成果简介】本成果涉及一种检测氡含量的装置及方法，检测氡含量的装置包括流气式腔室，所述流气式腔室的相对两侧分别为开设有进气口和出气口，所述流气式腔室的另外两侧的内壁上分别设置有漂移电极和带金属电极的半导体探测器，其中，所述漂移电极接负电压，所述带金属电极的半导体探测器接地。直接测量氡衰变子体的alpha粒子径迹并实时给出测量结果，避免了滞留效应，提高了仪器的稳定度和使用寿命。

【成果图片】

【联系方式】段治国、安红高、刘树楠、吴涛，02767868068，02767868067，02767862769